Dirk Steiner, Business Development Manager på Yxlon, har varit intensivt engagerad i industriell datortomografi sedan 2004 och har skannat och analyserat mer än 1 000 dataset. Här har du möjlighet att se inspelningen av Today's Metrology Live-webinar från GIE Media och höra hur krävande metrologiuppgifter löses på ett tillförlitligt sätt med datortomografi. Yxlon var närvarande tillsammans med tillverkare av annan metrologirelaterad teknik för att ge en omfattande översikt över lösningar.

Dirk talade om de senaste trenderna inom metrologi med hjälp av industriell datortomografi (CT) och hur data är nyckeln till att få den information som tillverkarna behöver för att öka effektiviteten och minska kostnaderna. Det viktigaste för tillverkarna är att deras produkter håller hög kvalitet. Vid "rundabordssamtalet" diskuterade fem deltagare hur deras lösningar kan hjälpa tillverkarna att uppnå detta. Att mäta och analysera inre strukturer är dock endast möjligt med CT.

Som svar på en av de frågor som ställdes sa Dirk: "CT är en icke-taktila metod, så vi ändrar inte geometrin i processen. Vi kan se de inre strukturerna, och med den stora trenden mot additiv tillverkning idag finns det inga gränser för vad man kan designa och skriva ut. Med CT kan vi titta in och mäta saker som antingen är underskurna eller till och med dolda inuti delen. Dessutom får vi också data från defekter, interna defekter, som i sig inte har något med metrologi att göra. Så vi slår två flugor i en smäll."